2022/11/29 更新

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ナガイ ナオト
永井 直人
NAGAI Naoto
所属
教育研究院 自然科学系 生産デザイン工学系列 教授
自然科学研究科 教育研究高度化センター 実践型教育研究部門 教授
職名
教授
外部リンク

学位

  • 博士(工学) ( 2002年3月   東北大学 )

  • 理学修士 ( 1985年3月 )

研究分野

  • ナノテク・材料 / 薄膜、表面界面物性  / 赤外分光、キャリア教育

経歴(researchmap)

  • 新潟県工業技術総合研究所   所長

    2019年4月 - 2021年3月

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  • 新潟県工業技術総合研究所   下越技術支援センター   センター長

    2018年4月 - 2019年3月

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  • 新潟県工業技術総合研究所   県央技術支援センター   センター長

    2016年4月 - 2018年3月

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  • 新潟県工業技術総合研究所   下越技術支援センター   参事

    2014年4月 - 2016年3月

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  • 新潟県工業技術総合研究所   下越技術支援センター   専門研究員

    2005年6月 - 2014年3月

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  • ㈱東レリサーチセンター   構造化学研究部第1研究室   室長

    1998年4月 - 2005年5月

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  • ㈱東レリサーチセンター   構造化学研究部第1研究室   研究員

    1985年6月 - 1998年3月

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経歴

  • 新潟大学   教育研究院 自然科学系 生産デザイン工学系列   教授

    2021年4月 - 現在

  • 新潟大学   自然科学研究科 教育研究高度化センター 実践型教育研究部門   教授

    2021年4月 - 現在

学歴

  • 東北大学   博士(工学)

    - 2002年3月

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  • 新潟大学   理学研究科

    1983年4月 - 1985年3月

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  • 新潟大学   理学部   物理学科

    1979年4月 - 1983年3月

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論文

  • Structural Analysis of Injection-Molded Polyoxymethylene Treated Below a Melting Point Using Field-Emission Scanning Electron Microscopy and Infrared Spectroscopy 査読

    Yuko Amaki, Hideki Okada, Naoto Nagai

    Applied Spectroscopy   76 ( 6 )   699 - 711   2022年6月

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    担当区分:最終著者, 責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:SAGE Publications  

    The heat treatment of an injection-molded polyoxymethylene slightly below the melting point and subsequent isothermal treatment at 130 °C were performed. The polyoxymethylene structure was examined using field-emission scanning electron microscopy and polarization infrared reflection measurements. After the heat treatment, a significant change in the surface morphology was observed, and the reflection spectrum derived from the polariton in the injection direction also changed dramatically. Since the reflection spectrum in the injection direction contains the reflection component of the perpendicular direction and vice versa, the polarization spectra of both directions can be calculated consistently. The mixing ratio of each crossed component and the pure relative permittivity both parallel and perpendicular to the main-chain direction were determined using the oscillator model. The heat treatment reduced the ratio of the perpendicular component and increased the order structure until just before melting. The structural changes characterized by the two techniques, along with Raman spectroscopy and differential scanning calorimetry, are discussed.

    DOI: 10.1177/00037028221078050

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    その他リンク: http://journals.sagepub.com/doi/full-xml/10.1177/00037028221078050

  • Anomalous high-infrared reflectance of extruded polyoxymethylene 査読

    Naoto Nagai, Hideki Okada, Yuko Amaki, Miyuki Okamura, Takuma Fujii, Takaki Suzuki, Akihiro Takayanagi, Sumito Nakagawa

    AIP Advances   10 ( 9 )   095201 - 095201   2020年9月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    DOI: 10.1063/5.0020445

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  • Infrared active surface modes found in thin films of perfluoroalkanes reveal the dipole–dipole interaction and surface morphology 査読

    Aki Fukumi, Takafumi Shimoaka, Nobutaka Shioya, Naoto Nagai, Takeshi Hasegawa

    The Journal of Chemical Physics   153 ( 4 )   044703 - 044703   2020年7月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    Infrared (IR) spectra of an organic thin film are mostly understood by considering the normal modes of a single molecule, if the dipole-dipole (D-D) interaction is ignorable in the film. When the molecules have a chemical group having a large permanent dipole moment such as the C=O and C-F groups, the D-D interaction induces vibrational couplings across the molecules, which produces an extra band as a surface phonon or polariton band because of the small thickness. Since the dipole moment of an organic compound is much less than that of an inorganic ionic crystal, we have a problem that the extra band looks like a normal-mode band, which are difficult to be discriminated from each other. In fact, this visual similarity sometimes leads us to a wrong direction in chemical discussion because the direction of the transition moment of the extra band is totally different from those of the normal modes. Here, we show useful selection rules for discussing IR spectra of a thin film without performing the permittivity analysis. The apparent change in the spectral shape on decrease in the thickness of the sample can be correlated with the morphological change in the film surface, which can also be discussed with changes in the molecular packing. This analytical technique has effectively been applied for studying the chemical properties of perfluoroalkanes as a chemical demonstration, which readily supports the stratified dipole-array theory for perfluoroalkyl compounds. Published under license by AIP Publishing.

    DOI: 10.1063/5.0012910

    Web of Science

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  • Morphology-sensitive infrared absorption bands of polymers derived from surface polaritons 査読

    Naoto Nagai, Hideki Okada, Takeshi Hasegawa

    AIP Advances   9 ( 10 )   105203 - 105203   2019年10月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    DOI: 10.1063/1.5116280

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  • Infrared Response of Sub-Micron-Scale Structures of Polyoxymethylene: Surface Polaritons in Polymers 査読

    Naoto Nagai, Makoto Okawara, Yuta Kijima

    Applied Spectroscopy   70 ( 8 )   1278 - 1291   2016年8月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:SAGE Publications  

    An investigation of the infrared (IR) spectra of polyoxymethylene (POM) mold plates was undertaken to determine the sub-micron-scale morphology and molecular orientation. The nest-structured cells concerned with the orientation were observed from scanning electron microscope (SEM) measurements with the aid of Raman spectroscopy. The intensity of the anomalous IR reflectance peak of the C–O stretching A<sub>2</sub> mode depends on the widths of the POM layers in the SEM image along the orientation direction. The results suggest that the spectral features originate from the Berreman effect of the bulk polaritons and the radiative surface polaritons. Moreover, the IR spectra of certain treated samples suggest that enhancement of the electromagnetic fields from the gap modes and transition dipole–dipole coupling influence the spectral shapes.

    DOI: 10.1177/0003702816653577

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    その他リンク: http://journals.sagepub.com/doi/full-xml/10.1177/0003702816653577

  • Structural Analysis of Mold Temperature Dependence of Polycarbonate by Mid-Infrared Spectroscopy 査読

    Naoto Nagai, Itsuo Nishiyama, Hidemi Ito

    Applied Spectroscopy   67 ( 10 )   1132 - 1141   2013年10月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:SAGE Publications  

    DOI: 10.1366/13-07043

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    その他リンク: http://journals.sagepub.com/doi/full-xml/10.1366/13-07043

  • A New Approach to Investigate Thin Surface Layers of Polymers: Fatigue Analysis of Polycarbonate 査読

    Naoto Nagai, Itsuo Nishiyama, Hideo Shimada, Hidemi Ito, Kazunaka Endo

    Applied Spectroscopy   67 ( 4 )   420 - 432   2013年4月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:SAGE Publications  

    DOI: 10.1366/12-06840

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    その他リンク: http://journals.sagepub.com/doi/full-xml/10.1366/12-06840

  • Study of Sugar Transformations in Carrots during Storage Using Snow by Mid-Infrared Spectroscopy and Chemometrics 査読

    Naoto Nagai, Hideki Okada, Satoshi Watanabe, Sayaka Shimojo

    Applied Spectroscopy   66 ( 9 )   1087 - 1090   2012年9月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:SAGE Publications  

    DOI: 10.1366/12-06647

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    その他リンク: http://journals.sagepub.com/doi/full-xml/10.1366/12-06647

  • Spectroscopic investigation of mixed materials using the adsorbed dissipative structures induced by Marangoni convection 査読

    Naoto Nagai

    Analytical Methods   4 ( 11 )   3679 - 3679   2012年

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Royal Society of Chemistry (RSC)  

    DOI: 10.1039/c2ay25199j

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  • Infrared Surface Analysis Using a Newly Developed Thin-Sample Preparation System 査読

    Naoto Nagai, Itsuo Nishiyama, Yoshio Kishima, Katsuhiko Iida, Koichi Mori

    Applied Spectroscopy   63 ( 1 )   66 - 72   2009年1月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:SAGE Publications  

    DOI: 10.1366/000370209787169885

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  • Analysis of the inter-molecular interactions between amino acids and acetone by THz spectroscopy 査読

    Naoto Nagai, Yutaka Katsurazawa

    Biopolymers   85 ( 3 )   207 - 213   2007年2月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Wiley  

    DOI: 10.1002/bip.20623

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  • Vibrational Spectroscopy of Carbon and Silicon Materials

    M. Yoshikawa, N. Nagai

    Handbook of Vibrational Spectroscopy   2006年8月

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    出版者・発行元:John Wiley & Sons, Ltd  

    DOI: 10.1002/0470027320.s6301

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  • Characterization of electron- or proton-irradiated Si space solar cells by THz spectroscopy 査読

    Naoto Nagai, Masakiyo Sumitomo, Mitsuru Imaizumi, Ryoichi Fukasawa

    Semiconductor Science and Technology   21 ( 2 )   201 - 209   2006年2月

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    担当区分:筆頭著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:IOP Publishing  

    DOI: 10.1088/0268-1242/21/2/019

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  • Direct evidence of inter-molecular vibrations by THz spectroscopy 査読

    NAGAI N.

    Chem. Phys. Lett.   413 ( 4-6 )   495 - 500   2005年9月

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    担当区分:筆頭著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.cplett.2005.08.023

    CiNii Article

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  • Infrared analysis of depth profiles in UV-photochemical degradation of polymers 査読

    N. Nagai, T. Matsunobe, T. Imai

    Polymer Degradation and Stability   88 ( 2 )   224 - 233   2005年5月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier BV  

    DOI: 10.1016/j.polymdegradstab.2004.11.001

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  • Characterization of Crystalline Defects and Stress in Shallow Trench Isolation by Cathodoluminescence and Raman Spectroscopies

    Ryuichi Sugie, Keiko Matsuda, Naoto Nagai, Tsuneo Ajioka, Masanobu Yoshikawa, Toshikazu Mizukoshi, Katsuhiko Shibusawa, Shoji Yo

    Extended Abstracts of the 2005 International Conference on Solid State Devices and Materials   2005年

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    掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)   出版者・発行元:The Japan Society of Applied Physics  

    DOI: 10.7567/ssdm.2005.p1-26

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  • テラヘルツ波分光による工業材料分析 招待

    永井直人

    レーザー研究   33 ( 12 )   848 - 854   2005年

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   記述言語:日本語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:The Laser Society of Japan  

    This paper shows some results on the characterization of the industrial materials by THz spectroscopy. The applications for bio-materials, dielectric thin films, polymers, nanocomposites, and semiconductors were discussed.

    DOI: 10.2184/lsj.33.848

    CiNii Article

    CiNii Books

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    その他リンク: https://jlc.jst.go.jp/DN/JALC/00272353767?from=CiNii

  • Analysis of the intermolecular interaction of nanocomposites by THz spectroscopy 査読

    Naoto Nagai, Tomoko Imai, Ryoichi Fukasawa, Koya Kato, Koji Yamauchi

    Applied Physics Letters   85 ( 18 )   4010 - 4012   2004年11月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    DOI: 10.1063/1.1811795

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  • Infrared microspectroscopy station at BL43IR of SPring-8 査読

    Y Ikemoto, T Moriwaki, T Hirono, S Kimura, K Shinoda, M Matsunami, N Nagai, T Nanba, K Kobayashi, H Kimura

    Infrared Physics & Technology   45 ( 5-6 )   369 - 373   2004年10月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier BV  

    DOI: 10.1016/j.infrared.2004.01.004

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  • Depth profile analysis of chemically amplified resist by using TOF-SIMS with gradient shaving preparations 査読

    N. Man, H. Okumura, H. Oizumi, N. Nagai, H. Seki, I. Nishiyama

    Applied Surface Science   231-232   353 - 356   2004年6月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier BV  

    DOI: 10.1016/j.apsusc.2004.03.093

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  • Abnormal dispersion of polymer films in the THz frequency region 査読

    NAGAI N.

    Chem. Phys. Lett.   388 ( 4-6 )   479 - 482   2004年4月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)  

    DOI: 10.1016/j.cplett.2004.03.044

    CiNii Article

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  • Depth Profile Analysis of Structures in ArF Resists by 172nm VUV Curing and Dry Etching Process Using .MU.-FTIR with Gradient Shaving Preparation 査読

    Haruki Okumura, Kazuhiro Takeda, Naoto Nagai

    Journal of Photopolymer Science and Technology   17 ( 4 )   535 - 540   2004年

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Technical Association of Photopolymers, Japan  

    DOI: 10.2494/photopolymer.17.535

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  • Depth profile analysis of polyimide film treated by potassium hydroxide 査読

    H. Okumura, T. Takahagi, N. Nagai, S. Shingubara

    Journal of Polymer Science Part B: Polymer Physics   41 ( 17 )   2071 - 2078   2003年9月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Wiley  

    DOI: 10.1002/polb.10572

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  • Depth profile analysis of the photochemical degradation of polycarbonate by infrared spectroscopy 査読

    N Nagai, H Okumura, T Imai, I Nishiyama

    Polymer Degradation and Stability   81 ( 3 )   491 - 496   2003年1月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier BV  

    DOI: 10.1016/s0141-3910(03)00135-6

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  • Depth profile analysis of ion-implanted photoresist by infrared spectroscopy 査読

    N. Nagai, T. Imai, K. Terada, H. Seki, H. Okumura, H. Fujino, T. Yamamoto, I. Nishiyama, A. Hatta

    Surface and Interface Analysis   33 ( 7 )   545 - 551   2002年7月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Wiley  

    DOI: 10.1002/sia.1415

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  • Infrared absorption study of rapid thermal oxidation andin situsteam generation of thin SiO2 films by gradient etching preparation 査読

    Naoto Nagai, K. Terada, Y. Muraji, H. Hashimoto, T. Maeda, Y. Maeda, E. Tahara, N. Tokai, A. Hatta

    Journal of Applied Physics   91 ( 7 )   4747 - 4750   2002年4月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    DOI: 10.1063/1.1459097

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  • Measurement of thermal conductivity of silicon dioxide thin films using a 3ω method 査読

    Tsuneyuki Yamane, Naoto Nagai, Shin-ichiro Katayama, Minoru Todoki

    Journal of Applied Physics   91 ( 12 )   9772 - 9772   2002年

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    DOI: 10.1063/1.1481958

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  • In Situ Observation of Native Oxide Growth on a Si(100) Surface Using Grazing Incidence X-Ray Reflectivity and Fourier Transform Infrared Spectrometer 査読

    Uemura Satoshi, Fujii Masanori, Hashimoto Hideki, Nagai Naoto

    Japanese journal of applied physics. Pt. 1, Regular papers & short notes   40 ( Part 1, No. 9A )   5312 - 5313   2001年9月

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:社団法人応用物理学会  

    It is well known that native oxide on hydrogen-terminated Si hardly grows in a drying atmosphere. We have developed an in situ observation system using grazing incidence X-ray reflectivity (GIXR) and Fourier transform infrared spectrometer (FTIR). In this study, we investigated the native oxide growth on hydrogen-terminated p-Si (100) in an actual drying atmosphere, which was prepared to 70 ppm H2O under atmospheric pressure at room temperature.

    DOI: 10.1143/jjap.40.5312

    CiNii Article

    CiNii Books

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  • IR and EPR Study of the Na Ion-Implanted SiO2/Si System 査読

    N. Nagai, Y. Yamaguchi, R. Saito, S. Hayashi, M. Kudo

    Applied Spectroscopy   55 ( 9 )   1207 - 1213   2001年9月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:SAGE Publications  

    DOI: 10.1366/0003702011953216

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  • High resolution measurement of the carbon localized vibrational mode in gallium arsenide 査読

    Naoto Nagai

    Journal of Applied Physics   89 ( 12 )   8345 - 8347   2001年6月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    DOI: 10.1063/1.1371937

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  • FT-IR-ATR study of depth profile of SiO2 ultra-thin films 査読

    N. Nagai, H. Hashimoto

    Applied Surface Science   172 ( 3-4 )   307 - 311   2001年3月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier BV  

    DOI: 10.1016/s0169-4332(00)00867-9

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  • Study of interaction between polyimide and Cu under a high humidity condition 査読

    N. Nagai, T. Hironaka, T. Imai, T. Harada, M. Nishimura, R. Mimori, H. Ishida

    Applied Surface Science   171 ( 1-2 )   101 - 105   2001年2月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier BV  

    DOI: 10.1016/s0169-4332(00)00539-0

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  • Depth Profile Analysis by Infrared Spectroscopy 招待 査読

    Naoto Nagai

    ANALYTICAL SCIENCE Supplement   17   i671 - i674   2001年

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者  

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  • Temperature dependence of electron concentration in type-converted silicon by 1×1017 cm−2 fluence irradiation of 1 MeV electrons 査読

    Hideharu Matsuura, Yoshitsugu Uchida, Naoto Nagai, Tadashi Hisamatsu, Takashi Aburaya, Sumio Matsuda

    Applied Physics Letters   76 ( 15 )   2092 - 2094   2000年4月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    DOI: 10.1063/1.126265

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  • FT-IR study of electron- or proton-irradiated Si crystals for solar cells 査読

    N Nagai, H Ishida, T Hisamatsu, T Aburaya, S Matsuda

    Journal of Crystal Growth   210 ( 1-3 )   74 - 79   2000年3月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier BV  

    DOI: 10.1016/s0022-0248(99)00650-8

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  • Infrared surface analysis of semiconductors by a noncontact air gap ATR method 査読

    N. Nagai, Y. Izumi, H. Ishida, Y. Suzuki, A. Hatta

    1998年

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)   出版者・発行元:AIP  

    DOI: 10.1063/1.55730

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  • FT-IR Study of the Molecular Orientation of Rubbed Polyimide Alignment Films. 査読

    Matsunobe T., Nagai N., Kamoto R., Nakagawa Y., Ishida H.

    Journal of Photopolymer Science and Technology   8 ( 2 )   263 - 268   1995年

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    記述言語:英語   掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:フォトポリマー学会  

    Molecular orientations and surface morphology of mechanically rubbed polyimide films have been extensively studied by FT-IR, ellipsometry and atomic force microscope. In-plane and out-of-plane molecular orientations of rubbed polyimide films have been examined by angular dependences of polarized infrared transmission spectra. It has been confirmed that the polyimide chain inclination against the surface plane is induced by the rubbing. It has been shown that mapping of molecular orientation can be obtained by a grazing angle FT-IR microspectroscopy.

    DOI: 10.2494/photopolymer.8.263

    CiNii Article

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  • Organic superlattice film by alternate deposition of single molecular layers 査読

    T. Nonaka, Y. Mori, N. Nagai, Y. Nakagawa, M. Saeda, T. Takahagi, A. Ishitani

    Thin Solid Films   239 ( 2 )   214 - 219   1994年3月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier BV  

    DOI: 10.1016/0040-6090(94)90854-0

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  • Phthalocyanines ultrathin alternating layer film on silicon, prepared by molecular beam deposition 査読

    T. Nonaka, T. Date, S. Tomita, N. Nagai, M. Nishimura, Y. Murata, A. Ishitani

    Thin Solid Films   237 ( 1-2 )   87 - 90   1994年1月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier BV  

    DOI: 10.1016/0040-6090(94)90242-9

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  • Fabrication of an organic superlattice film by molecular beam deposition 査読

    T. Nonaka, Y. Mori, N. Nagai, T. Matsunobe, Y. Nakagawa, M. Saeda, T. Takahagi, A. Ishitani

    Journal of Applied Physics   73 ( 6 )   2826 - 2830   1993年3月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    DOI: 10.1063/1.353059

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  • Raman scattering fromsp2carbon clusters 査読

    M. Yoshikawa, N. Nagai, M. Matsuki, H. Fukuda, G. Katagiri, H. Ishida, A. Ishitani, I. Nagai

    Physical Review B   46 ( 11 )   7169 - 7174   1992年9月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:American Physical Society (APS)  

    DOI: 10.1103/physrevb.46.7169

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    その他リンク: http://harvest.aps.org/v2/journals/articles/10.1103/PhysRevB.46.7169/fulltext

  • Infrared properties of Bi2Sr2Can−1CunOy 査読

    Kazuharu Shimizu, Hitoshi Nobumasa, Naoto Nagai, Tomoji Kawai

    Physica C: Superconductivity   185-189   949 - 950   1991年12月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Elsevier BV  

    DOI: 10.1016/0921-4534(91)91698-4

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  • Characterization of High Temperature Superconducting Thin Film Grown by Laser Ablation Method 査読

    K. Shimizu, H. Nobumasa, N. Nagai, T. Matsunobe, T. Kawai

    MRS Proceedings   236   1991年

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:Springer Science and Business Media LLC  

    <title>Abstract</title>We have measured the complex dielectric function of Bi<sub>2</sub>Sr<sub>2</sub>CaCu<sub>2</sub>O<sub>y</sub>, samples in the near infrared region directly by spectroellipsometry. As for both single crystal and thin film. superconducting samples have a zero point in the real part (ε1) of the complex dielectric function (ε*) and a clear peak of the imaginary part of the inverse ε* at almost the same frequency. On the other hand, non-superconducting samples have no such ε<sub>1</sub>, zero point, and the peak height of (-Im(l/ε*)) becomes small. Then we can determine the superconductivity of samples by this spectroellipsometry measurement at room temperature.

    DOI: 10.1557/proc-236-449

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  • Preparation of diamondlike carbon films by electron cyclotron resonance chemical vapor deposition 査読

    I. Nagai, A. Ishitani, H. Kuroda, M. Yoshikawa, N. Nagai

    Journal of Applied Physics   67 ( 6 )   2890 - 2893   1990年3月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    DOI: 10.1063/1.345428

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  • Characterization of evaporated thin films of merocyanine dyes 査読

    S. Hattori, A. Ishitani, H. Kuroda, Y. Nagasawa, Y. Mori, N. Nagai

    Journal of Applied Physics   67 ( 1 )   237 - 240   1990年1月

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    掲載種別:研究論文(学術雑誌)   出版者・発行元:AIP Publishing  

    DOI: 10.1063/1.345287

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  • FT-IR Study On Microstructure Of Diamondlike Amorphous Carbon Films

    N. Nagai, M. Yoshikawa, H. Ishida, I. Nagai, A. Ishitani, H. Kuroda

    7th Intl Conf on Fourier Transform Spectroscopy   1989年12月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)   出版者・発行元:SPIE  

    DOI: 10.1117/12.969564

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  • Study On The 1720cm-1 Absorption Band Of Cz-Si By Low-Temperature FT-IR Measurement

    N. Nagai, Y. Nagasawa, H. Ishida, A. Ishitani

    7th Intl Conf on Fourier Transform Spectroscopy   1989年12月

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    担当区分:筆頭著者, 責任著者   掲載種別:研究論文(国際会議プロシーディングス)   出版者・発行元:SPIE  

    DOI: 10.1117/12.969487

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書籍等出版物

  • ポリイミドの高機能化と応用技術

    ( 担当: 共著)

    サイエンス&テクノロジー  2008年 

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  • テラヘルツ技術

    ( 担当: 共著)

    オーム社  2006年 

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  • 新訂版 表面科学の基礎と応用

    ( 担当: 共著)

    エヌ・ティー・エス  2004年 

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  • Handbook of Vibarational Spectroscopy Vol.4

    ( 担当: 共著)

    Wiley  2001年 

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  • 半導体計測評価事典

    ( 担当: 共著)

    サイエンスフォーラム社  1994年 

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  • 赤外線工学―基礎と応用―

    ( 担当: 共著)

    オーム社  1991年 

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MISC

  • テラヘルツ分光法の工業材料分析への応用 招待

    永井 直人

    光学   9   465   2005年

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    担当区分:責任著者  

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  • 劣化ポリカーボネート樹脂の強度および深さ方向分析

    西山逸雄, 永井直人

    15 ( 2 )   66   2003年

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  • 半導体材料の分析技術の動向について

    吉川正信, 永井直人

    光技術コンタクト   35   12   1997年

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  • 分析入門シリーズ 分析技術の実際知識(1)分析入門コース 招待

    添田房美, 永井直人

    クリーンテクノロジー   8   69   1995年

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  • FT-IRによる半導体材料の評価 招待

    永井直人, 石田英之

    島津科学器械ニュース   29   1988年

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    担当区分:責任著者  

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受賞

  • William F. Meggers Award

    2017年10月   Society for Applied Spectroscopy  

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  • 先端分析技術・機器開発賞

    2005年7月   日本分析化学会  

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担当経験のある授業科目

  • 産業技術政策特論

    2022年
    -
    現在
    機関名:新潟大学

  • 大型機器分析技術

    2022年
    -
    現在
    機関名:新潟大学

  • 博士のためのインターンシップ

    2021年
    -
    現在
    機関名:新潟大学

  • 修士のためのインターンシップ

    2021年
    -
    現在
    機関名:新潟大学