MISC - SOHGAWA Masayuki
-
分子軌道解析におけるZrO<sub>2</sub>および希土類酸化物クラスターモデルの検討
金島岳, 奥山雅則, 上野正人, 北井聡, 寒川雅之
応用物理学関係連合講演会講演予稿集 48th ( 2 ) 2001
-
Figure-8アンジュレータからの高輝度放射光を用いた電子材料のエッチング
藤田哲士, 北井聡, 寒川雅之, 神田浩文, 金島岳, 金島岳, 奥山雅則, 大橋治彦
応用物理学会学術講演会講演予稿集 62nd ( 2 ) 2001
-
FIS構造における界面Siのフォトレフレクタンス分光法による評価
神田浩文, 寒川雅之, 北井聡, 金島岳, 児玉一志, 奥山雅則, 藤本晶, 江利口浩二
応用物理学会学術講演会講演予稿集 62nd ( 2 ) 2001
-
フォトレフレクタンス分光法を用いたSi/SiO<sub>2</sub>界面の応力評価
寒川雅之, 江利口浩二, 藤本晶, 金島岳, 奥山雅則
応用物理学会学術講演会講演予稿集 61st ( 2 ) 705 2000.9
-
Non-Destructive and Contactless Monitoring Technique of Si Surface Stress by Photoreflectance
SOUGAWA Masayuki, KANASHIMA Takeshi, AGATA Masashi, YAMASHITA Kaoru, OKUYAMA Masanori, FUJIMOTO Akira, ERIGUCHI Koji
2000 456 - 457 2000.8
-
フォトレフレクタンス分光法によるSiO<sub>2</sub>/Si界面の歪みの解析
阿形眞司, 寒川雅之, 江利口浩二, 藤本晶, 金島岳, 山下馨, 奥山雅則
応用物理学関係連合講演会講演予稿集 47th ( 2 ) 820 2000.3